激光线扫描测头几何变换标定与曲面插值修正方法及装置-精密微纳制造技术全国重点实验室

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专利名称：	激光线扫描测头几何变换标定与曲面插值修正方法及装置
专利号（申请号）：	ZL200810150467.9
批准日期（申请日期）：	2010.03.12
批准部门：	国家知识产权局
发明人姓名：	蒋庄德, 丁建军, 李兵, 陈磊
专利类型：	已授权
成果描述：