数字图像测量亚像素边沿处理方法-精密微纳制造技术全国重点实验室

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专利名称：	数字图像测量亚像素边沿处理方法
专利号（申请号）：	ZL200810150465.X
批准日期（申请日期）：	2010.05.28
批准部门：	国家知识产权局
发明人姓名：	丁建军, 蒋庄德, 李兵, 郭俊杰, 张飞
专利类型：	已授权
成果描述：