| 论文标题： |
In situ TEM study on crack propagation in nanoscale Au thin films |
| 作者姓名： |
Wang HT, Nie AM, Liu JB, Wang P, Chen BD, Liu HZ, Fu MS |
| 刊物名称（出版社）： |
SCRIPTA MATERIALIA |
| 年卷期页： |
v 65, n 5, p 377-379, Sep. 2011 |
| 索引号： |
SCI::797DV EI:20112814129745 |
| 著作类型： |
国际学术期刊 |
| 著作简介： |
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