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曲面样品基底涂层厚度的测量方法及样品装卡工具

时间：2018-11-03点击数：

专利名称： 曲面样品基底涂层厚度的测量方法及样品装卡工具
专利号（申请号）： ZL200910020925.1
批准日期（申请日期）： 2010.04.27
批准部门： 国家知识产权局
发明人姓名： 王海容, 陈灿, 孙国良, 任军强, 苑国英
专利类型： 已授权
成果描述：

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