工业射线检测底片数字化装置-精密微纳制造技术全国重点实验室

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专利名称：	工业射线检测底片数字化装置
专利号（申请号）：	ZL200710018919.3
批准日期（申请日期）：	2010.02.12
批准部门：	国家知识产权局
发明人姓名：	李成, 高建民, 陈富民, 陈琨, 申清明, 艾敏华刘军强
专利类型：	已授权
成果描述：