主要性能指标：

1 稳态荧光测试部分 1.1 光学系统结构：可实现L形状或者T形状，并可在两者之间变换。 可实现L形状或者T形状，并可在两者之间变换。 1.2 信噪比≥20000:1 1.3 光谱分辨率： —— —— —— 1.3.1 激发谱分辨率：0.02-30nm； 光谱分辨率：0.02-30nm 1.3.2 扫描步进：≤0.02nm； 扫描步进：≤0.02nm 1.3.3 发射光谱焦距：≥300mm； 发射光谱焦距：≥300mm； 1.4激发光源： —— —— —— 1.4.1氙灯：75W高效连续氙灯； 75W高效连续氙灯； 1.4.2 光谱范围：200-1000nm； 光谱范围：200-1000nm； 2 荧光寿命测试部分 —— —— —— 2.1 数据采集模式：时间相关单光子计数（TCSPC）； 数据采集模式：时间相关单光子计数（TCSPC）； 2.2 荧光寿命范围：20ps-50μs； 荧光寿命范围：20ps-50μs； 2.3 最小时间分辨率：≤815fs； 最小时间分辨率：≤815fs； 2.4 通道数：≥4096； 通道数：≥4096； 2.5 激发光源:波长输出范围235-2200nm，脉宽<6ps ，输出频率≥100khz； 激发光源:波长输出范围235-2200nm，脉宽<6ps，输出频率≥100khz； 2.6时间抖动：≤25ps 时间抖动：≤25ps 3 单色仪 3.1激发单色仪 —— —— —— 3.1.1 类型：czerny-turner； 类型：czerny-turner； 3.1.2 配有三光栅塔轮，全软件控制转动； 配有三光栅塔轮，全软件控制转动； 3.1.3杂散光抑制比：≥1014:1； 3.1.4光谱分辨率：≤0.02nm； 3.1.5波长准确度：≤±0.2nm； 波长准确度：≤±0.2nm； 3.1.6波长重复性：≤±0.02nm； 波长重复性：≤±0.02nm； 3.1.7最小步进：≤0.02nm； 最小步进：≤0.02nm； 3.1.8滤光片用于消除高级散射光； 滤光片用于消除高级散射光； 3.1.9线色散系数：0.9nm/mm。 4 检测器 4.1紫外可见检测器： 示 4.1.1红敏光电倍增管r928p； 4.1.2光谱范围：185nm-900nm； 4.1.3工作温度：常温；暗计数：<100cps。 工作温度：常温；暗计数：<100cps。 4.2 近红外区检测器： 4.2.1检测器类型：ingaas； 4.2.2 光谱范围：900-2200nm； 光谱范围：900-2200nm； 4.2.3工作温度：-20℃； 4.2.4 增配锁相放大器和斩波器，用于增强灵敏度。 增配锁相放大器和斩波器，用于增强灵敏度。 4.3 荧光寿命检测器： —— —— —— 4.3.1 pmd检测器； pmd检测器 4.3.2 检测范围：185-820nm。 检测范围：185-820nm。 5 测定量子产率用积分球 —— —— —— 5.1积分球直径：≥150mm； 积分球直径：≥150mm； 5.2 可进行反射率的测试； 5.3可进行光致发光量子产率测试和色度计算； 5.3可进行光致发光量子产率测试和色度计算； 5.4 可完成近红外至1700nm的量子产率测量。 可完成近红外至1700nm的量子产率测量。 6 微区稳态荧光测试部分 —— 6.1 采用显微镜耦合或反射式直接耦合； 采用显微镜耦合或反射式直接耦合； 6.2 测试范围：380-1700nm； 测试范围：380-1700nm； 6.3 激发光源： —— —— —— 6.3.1 超连续激光器，波长范围245-2200nm，紫外可见区功率≥300mw，频率范围 6.3.2 激发波长为325nm的he-cd激光器，功率≥30mw。 7 样品支架 7.1配备固体样品支架：可测试薄膜和固体样品。 配备固体样品支架：可测试薄膜和固体样品。 7.2 样品室内包含液体石英皿支架及带有稳定传感器的循环水出入口，或配备原装进口低温恒温循环器的磁力搅拌支架。 8 配备高通滤光片一套，8块。 配备高通滤光片一套，8块。 9 衰减片套组 衰减片套组 10 配备低温样品支架，温度范围为77-500k，软件能够反控变温附件温度，自动进行温度相关的荧光光谱扫描，并配置莱宝真空泵一套，配置77k杜瓦瓶一只。

主要功能：

稳态激发，发射，同步扫描光谱，荧光寿命，量子产率。