主要性能指标：

技术参数 1.光谱范围: 370nm 到 900nm (180个波长) 2.入射角：70° 3.数据采样时间：3-30sec 4.检测器分辨率：0.1 nm 主要特点 1.α-SE无需专业维护，唯一的消耗品是价格低廉的光源－卤素灯（寿命通常为2000小时）。 2.α-SE是一款即可用于科研也可用于生产检测的紧凑型仪器，操作十分简便。即使毫无操作经验的员工也可以在半小时内学会测量。

主要功能：

仪器简介 该设备是一台高效、低廉的薄膜厚度及光学常数测量系统。计算机通过USB口控制仪器、数据采集。配备强大的数据分析软件。几十秒内完成180个波长的测量及数据的拟合。α-SE特别适用于被测样品比较固定，模型容易建立，需要生产监控与科研兼顾的情况。 主要功能 可对电介质、半导体、有机物等多种薄膜材料进行厚度、光学常数、表面粗糙、界面层等参数的高精度测量。